TVS 瞬變抑制二極管的失效模式及可靠性評(píng)估是工程應(yīng)用中的重要關(guān)注點(diǎn)。常見的失效原因包括長(zhǎng)時(shí)間過(guò)功率運(yùn)行、多次大電流沖擊導(dǎo)致的熱疲勞、焊接工藝不當(dāng)引起的機(jī)械應(yīng)力損傷等。為提升器件的可靠性，制造商通常會(huì)在生產(chǎn)過(guò)程中采用先進(jìn)的封裝工藝（如玻璃鈍化技術(shù)、環(huán)氧樹脂封裝）和嚴(yán)格的測(cè)試流程（如浪涌沖擊測(cè)試、溫度循環(huán)測(cè)試）。用戶在使用過(guò)程中，也需注意控制工作溫度范圍，避免超過(guò)器件的結(jié)溫，并確保 PCB 布局合理，減少熱積聚對(duì)器件性能的影響。?TVS在電壓異常時(shí)迅速動(dòng)作，穩(wěn)定電路電壓波動(dòng)。南山區(qū)電子TVS瞬變抑制二極管有哪些

5G基站天饋系統(tǒng)的TVS保護(hù)面臨前所未有的挑戰(zhàn)。Massive MIMO天線陣列中的每個(gè)輻射單元都需要的保護(hù)電路，這對(duì)TVS器件的集成度提出了更高要求。毫米波頻段的保護(hù)需要電容（